GB 10589-2008 《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；

GB 11158-2008 《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；

GB 10592-2008 《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；

GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》；

GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》；

GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變?cè)囼?yàn)方法》；

GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則》；

GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》；

GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》；

GB2423.3－2008試驗(yàn)C《恒定濕熱試驗(yàn)方法》；

GB2423.4－93試驗(yàn)D《交變濕熱試驗(yàn)方法》。

恒溫恒濕試驗(yàn)箱由調(diào)溫（加溫、制冷）和增濕兩部分組成。通過(guò)安裝在箱體內(nèi)頂部的旋轉(zhuǎn)風(fēng)扇，將空氣排入箱體實(shí)現(xiàn)氣體循環(huán)、平衡箱體內(nèi)的溫、濕度，由箱體內(nèi)置的溫、濕度傳感器采集的數(shù)據(jù)，傳至溫、濕度控制器（微型信息處理器）進(jìn)行編輯處理，下達(dá)調(diào)溫調(diào)濕指令，通過(guò)空氣加熱單元、冷凝管以及水槽內(nèi)加熱蒸發(fā)單元的共同完成。

在恒溫恒濕箱運(yùn)行時(shí)，除非萬(wàn)不得已，否則請(qǐng)不要隨便打開(kāi)箱門(mén)，以免造成不良后果： 

1.箱門(mén)內(nèi)仍保持高溫；

2.高溫空氣可能觸發(fā)火災(zāi)警報(bào)； 

3.高溫濕氣沖出箱外； 

4.對(duì)壓縮機(jī)造成一定損壞。

除非實(shí)驗(yàn)要求，不建議客戶在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中頻繁開(kāi)關(guān)箱門(mén)。